產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
Element美國(guó)EDAX能譜儀
EP6美國(guó) Cascade Microtech EP6探針臺(tái)
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
主動(dòng)隔振臺(tái)ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
P170全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
P7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心掃描熱學(xué)顯微鏡
product
產(chǎn)品分類
掃描熱學(xué)顯微鏡驅(qū)近系統(tǒng)的機(jī)械設(shè)計(jì)可使得經(jīng)過(guò)幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測(cè)區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。
更新時(shí)間：2024-06-17
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：2977
掃描熱學(xué)顯微鏡：本設(shè)備通過(guò)使用特殊帶熱電偶的針尖，掃描樣品時(shí)，熱電偶的溫度，通過(guò)熱信號(hào)成像放大器，通過(guò)AFM處理，同時(shí)得到熱成像圖和形貌圖?？梢缘玫蕉繙囟确植汲上駡D，和定性熱導(dǎo)率分布圖。針尖的設(shè)計(jì)，可以達(dá)到小于50nm的熱空間分辨率。
更新時(shí)間：2025-09-25產(chǎn)品型號(hào)：VertiSense瀏覽量：2586