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掃描熱學顯微鏡是如何進行測量的呢

更新時間：2022-11-15

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　　掃描熱學顯微鏡也是依靠原子力顯微鏡的成像模式，即熱導電率通過樣品表面使圖片發(fā)生改變的形式完成的。同其他模式(橫向力顯微鏡，磁力顯微鏡，靜電力顯微鏡等)，掃描力顯微鏡在獲得數(shù)據(jù)的同時能夠接收圖像方面的數(shù)據(jù)。

　　這種掃描模式的制作是用靠近納米加工熱探針針尖頂部的電阻元件來代替標準的接觸模式懸臂來實現(xiàn)的。這個電阻與惠斯通電橋的電路的一端合并，從而允許系統(tǒng)來控制阻力。

　　該阻力與探針尾部的溫度相關，惠斯通電橋也許就是被設計來一方面探測樣品的溫度，另一方面用來描繪樣品熱導電率的質(zhì)量圖。

　　樣品溫度的變化常常在有源件設備中表現(xiàn)出來，例如，它有可能是有關設備的熱點和溫度梯度圖，如磁記錄頭、激光二極管和電路。

　　然而，然而熱導率成像通常應用于復合或混紡樣品。在這種模式下，一個電壓應用于探針、一個反饋環(huán)路則過去常常用于保持探針的恒溫。

　　隨著熱探針在不同樣品表面上的掃描，或多或少的能量將會從針尖消耗掉。如果這個區(qū)域是高熱導電率區(qū)中的一部分，那么更多的能量將從針尖消失。

　　當這種情況發(fā)生的話，熱反饋環(huán)將根據(jù)電壓調(diào)整探針，使之保持一個常溫。當探針進入一個低熱導電率的區(qū)域的時候，熱反饋環(huán)將會降低電壓以迎合探針，因為探針此時在常溫下只需要較低的能量。通過調(diào)整電壓使探針保持常溫，就可以產(chǎn)生一張關于樣品熱導電率的圖片。

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